Le prochain séminaire de l’équipe Mokaplan aura lieu le mercredi 7 novembre à 10h30 à l’INRIA Paris (2 rue Simone Iff) en salle A415.
Nous aurons le plaisir d’écouter Xiaolu TAN (Université Paris-Dauphine) et Claire LAUNAY (Université Paris-Descartes).
- Exposé de Xiaolu TAN
- Exposé de Claire LAUNAY
Titre: Processus ponctuels déterminantaux et images : quelques exemples d’application
Résumé: Les processus ponctuels déterminantaux (PPD) permettent de modéliser le caractère répulsif de certains ensembles de points. Ils capturent les corrélations négatives : plus deux points sont similaires, moins il est probable qu’ils soient échantillonnés simultanément. Ces processus ont donc tendance à générer des ensembles de points diversifiés ou éloignés les uns des autres. Contrairement à d’autres processus répulsifs, ceux-ci ont l’avantage d’être entièrement déterminés par leur noyau, leurs moments sont tous connus et il existe un algorithme exact pour les échantillonner. Lors de cet exposé, je présenterai les processus ponctuels déterminantaux dans un cadre discret général puis dans celui des images : un cadre 2D, stationnaire et périodique. Nous avons étudié les propriétés de répulsion de tels processus, notamment en utilisant les modèles shot noise, propriétés qui s’avèrent intéressantes pour synthétiser des micro-textures. Je présenterai également comment les processus déterminantaux peuvent s’appliquer au sous-échantillonnage d’une image dans l’espace des patchs.
